 zertifizierte Messgenauigkeit
und Reproduzierbarkeit
Hohe Auflösung (lateral 120 nm)
Flankensteilheiten bis zu 85°
intuitive und einfache Handhabung
Rauheitsmessung nach allen Standards
Innovative dual pinhole Technologie
für höchste Flexibilität |
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LEXT OLS4000 - die neue Referenz für Messungen im mikroskopischen Bereich
Das neue LEXT OLS4000 erfüllt dank seiner einzigartigen dual pinhole Technologie die Anforderungen an eine Inspektion aller Materialoberflächen. Richten Sie schnell und zuverlässig Ihr Augenmerk auf Ihre Hauptinteressen, die neue Softwareoberfläche unterstützt Sie bei Forschungsaufgaben oder Routineinspektionen. Die herausragende Genauigkeit und Auflösung des neuen LEXT lässt Sie leicht und schnell unbekannte Strukturen Ihrer Probe erkennen, ohne dabei die Oberflächentopographie selbst zu beeinflussen. Die extrem schnelle Schichtdickenmessung, die flexible Rauheitsmessung und die Möglichkeit, die hochpräzisen Bilder mit Hilfe einer CCD Kamera auch farbig darzustellen, runden das Leistungsspektrum des OLS4000 ab. Erstellen Sie einfacher als je zuvor professionelle Berichte und standardisieren Sie Ihre Messaufgaben entsprechend Ihren Anforderungen.
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